Convocatòria anual de la secció de Metrologia 2018

Benvolguts, / Benvolgudes,

Ens plau convidar els membres de la Societat Catalana de Tecnologia a la reunió anual de la Secció Catalana de Metrologia (SCT-Metrologia), per fer un balanç de l’estat de la Secció així com del seu futur.

 

La reunió es durà a terme a la sala Puig i Cadafalch de l’Institut d’Estudis Catalans, el proper 14 de novembre, a les 18 hores.

L’ordre del dia de la reunió és el següent:

  1. Presentació de la memòria anual d’activitats de l’SCT-Metrologia.
  2. Renovació i/o ampliació de vocals de l’SCT-Metrologia, així com exposició de les directrius d’organització.
  3. Presentació de les futures activitats de la Secció.
  4. Torn de preguntes i debat.

Per a una correcte gestió de l’espai de la sala, les persones que desitgin assistir-hi han d’emplenar el formulari següent:
https://www.iec.cat/jornades/metrologia2018.asp

 

DIA MUNDIAL DE LA METROLOGIA 2018 A VILANOVA I LA GELTRÚ

El passat dissabte dia 19 de maig es va celebrar a la sala d’actes de l’EPSEVG el Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig).

Aquesta és la primera jornada organitzada per la Secció Catalana de Metrologia (SCM) en el Campus de Vilanova i la Geltrú de la Universitat Politècnica de Catalunya. La jornada duia per nom “El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant” i va constar de dues parts: l’objectiu de la primera va ser donar a conèixer les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i a la segona es van donar nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i d’educació superior.

Redefinir i refinar

El SI d’unitats

Didàctica

Les tres ponències van donar peu al diàleg sobre les noves metodologies docents i per altra banda al debat sobre la normalització del sistema internacional de mesures.

https://web3.epsevg.upc.edu/ecomunicats/pdipas/novetat.php?idn=4977&utm_source=hemeroteca&utm_campaign=504&utm_medium=4977

CELEBRACIÓ DEL DIA MUNDIAL DE LA METROLOGIA A VILANOVA

Us convidem a assistir a la primera jornada amb motiu del Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig), que se celebra el proper dissabte 19 de maig, al campus universitari de la Universitat Politècnica de Catalunya a Vilanova i la Geltrú (EPSEVG).

Enllaç de la jornada :https://goo.gl/forms/i29iMIbOYdox0BUc2

La jornada es denomina El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant i està dividida en dues parts: l’objectiu de la primera és comprendre millor les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i en la segona es donaran nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i educació superior.

La metrologia es defineix com la ciència del mesurament. Considerant que els mesuraments estan implicats en bona part de les activitats científiques, tècniques, preventives (salut, seguretat, medi ambient) i quotidianes, aquesta definició posa en relleu les dues característiques bàsiques de l’activitat.

D’una banda, és una activitat d’infraestructura, que difícilment es veu directament i que està amagada com a suport de gairebé totes les activitats humanes, tant en la producció com en el consum i en la distribució. Això implica que els metròlegs participin, ben directament, en activitats tan diverses com la protecció de la salut humana (radiacions ionitzants —accidentals, laborals, en diagnòstic i tractament—, il·luminació, soroll, anàlisis clíniques, pesatge en diàlisi o pesatge de prematurs, etc.), la protecció de la seguretat (mesures relacionades amb el trànsit —velocitat, alcohol—, mesures d’aforament de locals), la protecció del medi ambient (mesures de contaminants), la protecció del comerç (exactitud en les transaccions comercials) i tot el que està relacionat amb l’assegurament de la qualitat en les diferents activitats productives. Això comportaque els metròlegs estiguin en contacte i col·laborin amb professionals molt diferents que, en molts casos, no tenen un perfil tècnic.

De l’altra, és una activitat transversal a les disciplines clàssiques que aplega físics, químics, biòlegs, farmacèutics, professionals clínics en general i professionalsde totes les branques de l’enginyeria, i que obté el seu caràcter específic precisament de les interaccions entre ells. Una de les coses que més satisfacció aporta als metròlegs és la seva pròpia diversitat.

A escala internacional, aquesta diversitat es reflecteix en el fet que l’organisme bàsic de consens no és una única organització sinó un conjunt, en el qual, si deixem de banda les organitzacions governamentals metrològiques (Oficina Internacional de Pesos i Mesures, Organització Internacional de Metrologia Legal i WELMEC- CooperacióEuropea en Metrologia Legal) i les de normalització (Organització Internacional per a la Normalització, Comissió Electrotècnica Internacional), apareixen com a unions professionals la Unió Internacional de Física Pura i Aplicada, la Unió Internacional de Química Pura i Aplicada i la Federació Internacional de Química Clínica i Medicina del Laboratori, que posen de manifest aquesta diversitat d’orígens i aplicacions.

La Secció Catalana de Metrologia (SCM) va néixer dins la Societat Catalana de Tecnologia (SCT), que pertany a l’Institut d’Estudis Catalans (IEC). Fou creada per la manca d’un punt d’unió entre els diferents professionals de la metrologia, que a Catalunya i als altres territoris de llengua catalana es troben dispersos en les activitats damunt dites, tant en universitats i centres de recerca com en empreses públiques o privades que es dediquen principalment a la metrologia en alguns camps tècnics particulars (laboratoris de calibratge, fabricants d’instruments de mesura, metrologia legal), en d’altres que no s’hi dediquen però que tenen necessitats metrològiques especials i fins i tot encara més infraestructura, en activitats d’acreditació d’aquests laboratoris, en l’Administració de la metrologia legal i en la docència de la metrologia. En conseqüència, la Secció Catalana de Metrologia vol esdevenir un nexe d’unió en la comunitat de metròlegs.

Dia de la Metrologia 2017

El dia 20 de maig, en l’aniversari de la signatura de la Convenció del Metre, del 1875, celebrem el Dia Mundial de la Metrologia. És una ocasió per a recordar que, entre tots, anem aconseguint la uniformitat de mesures arreu del món, cada vegada amb més exactitud i arribant a un nombre més gran de camps i de valors. I també és una ocasió per a comunicar-nos amb la resta de la societat, atenent a les seves necessitats i dient-los com participem, massa silenciosament, en la resolució dels problemes en els diferents àmbits.

Per recollir aquests valors internacionals, cada any un institut nacional de metrologia elabora un pòster uniforme per a tots els països. Enguany, per primer cop, l’hem traduït al català i està a la vostra disposició perquè en feu difusió. Cada any, el Dia Mundial de la Metrologia té un tema, i el 2017 correspon a «Mesuraments per al transport». Podeu trobar més informació al web http://www.worldmetrologyday.org.

1a JORNADA DE METROLOGIA A CATALUNYA

Jornada de Metrologia a Catalunya

Ubicació: Institut d’Estudis Catalans (C. del Carme, 47, 08001 Barcelona)
Sala: Pi i Sunyer

Data: 27 de gener de 2017

Recordeu que us hi heu de registrar i confirmar l’assistència mitjançant el formulari següent:

Tancament d’inscripcions per sobrepassar l’ocupació de la sala. Totes les persones que encara hi estiguin interessades, poden inscriure’s com a mostra d’interès per rebre la documentació de la jornada.

Accés al formulari d’inscripció (tancat)

Les dades facilitades en aquest formulari s’empraran únicament per a contactar-vos en cas de canvis en la planificació inicial, així com per a comptabilitzar els assistents.

 

PROGRAMA

9.00-9.30 h: Inauguració

A càrrec de:

  • Joandomènec Ros Aragonès (President de l’Institut d’Estudis Catalans)
  • Núria Salán Ballesteros (Presidenta de la Societat Catalana de Tecnologia)
  • Isidre Masalles i Roman (Subdirector general de Seguretat Industrial)

9.45-11.30 h: Sessió 1

Ponents: José Sánchez, Albert Garcia

  • Presentacions:
  • Visió global de la metrologia
  • Presentació en societat del grup de metrologia
  • Taula rodona oberta a tots els assistents

Presentació de la Secció Catalana de Metrologia. Albert Garcia [PDF]
Visió global de la metrologia. José Sánchez [PDF]

11.30-12.00 h: Descans i refrigeri

Ubicació: pati de l’IEC

12.00-13.00 h: Sessió 2

Ponent: Eugeni Vilalta

  • Presentació:
  • «Moments de la història metrològica de la humanitat i dels catalans»
  • Taula rodona oberta a tots els assistents

Moments metrològics [PDF]

Cloenda de la jornada

A càrrec de: Núria Salán Ballesteros (Presidenta de la SCT)

Resum de la Jornada