1a JORNADA DE METROLOGIA A CATALUNYA

Jornada de Metrologia a Catalunya

Ubicació: Institut d’Estudis Catalans (C. del Carme, 47, 08001 Barcelona)
Sala: Pi i Sunyer

Data: 27 de gener de 2017

Recordeu que us hi heu de registrar i confirmar l’assistència mitjançant el formulari següent:

Tancament d’inscripcions per sobrepassar l’ocupació de la sala. Totes les persones que encara hi estiguin interessades, poden inscriure’s com a mostra d’interès per rebre la documentació de la jornada.

Accés al formulari d’inscripció (tancat)

Les dades facilitades en aquest formulari s’empraran únicament per a contactar-vos en cas de canvis en la planificació inicial, així com per a comptabilitzar els assistents.

 

PROGRAMA

9.00-9.30 h: Inauguració

A càrrec de:

  • Joandomènec Ros Aragonès (President de l’Institut d’Estudis Catalans)
  • Núria Salán Ballesteros (Presidenta de la Societat Catalana de Tecnologia)
  • Isidre Masalles i Roman (Subdirector general de Seguretat Industrial)

9.45-11.30 h: Sessió 1

Ponents: José Sánchez, Albert Garcia

  • Presentacions:
  • Visió global de la metrologia
  • Presentació en societat del grup de metrologia
  • Taula rodona oberta a tots els assistents

Presentació de la Secció Catalana de Metrologia. Albert Garcia [PDF]
Visió global de la metrologia. José Sánchez [PDF]

11.30-12.00 h: Descans i refrigeri

Ubicació: pati de l’IEC

12.00-13.00 h: Sessió 2

Ponent: Eugeni Vilalta

  • Presentació:
  • «Moments de la història metrològica de la humanitat i dels catalans»
  • Taula rodona oberta a tots els assistents

Moments metrològics [PDF]

Cloenda de la jornada

A càrrec de: Núria Salán Ballesteros (Presidenta de la SCT)

Resum de la Jornada